半導体検査装置
電気テスタ装置〈レポート基準年：2019年〉
| データ更新日：2020年10月01日 | |
|---|---|
| 情報提供元 | 株式会社富士経済ネットワークス |
| PDFページ数 | 1頁（299kb） |
- レポート概要（レポートから抜粋）
-
電気テスタ装置はパワーデバイスの電気特性等の動作確認を行う試験装置である。当該装置はパターン形成後のウェーハ、及びパッケージング工程まで完了した半導体デバイスに電気を流すことで、デバイスが正常に動作するかの試験を行う。本項では電気テスタ装置の内、パワーデバイス向けに出荷された装置を対象とする。パワ･･･
１．市場規模（前年比）
２．市場予測
３．市場動向（販売実績・前年比）
４．マーケットシェア（会社名、販売実績、シェア）
５．市場概要
６．マーケットシェア状況
７．市場展望
８．市場指標／評価
価格2,200円（税抜）
チップ外観検査装置〈レポート基準年：2019年〉
| データ更新日：2020年10月01日 | |
|---|---|
| 情報提供元 | 株式会社富士経済ネットワークス |
| PDFページ数 | 1頁（296kb） |
- レポート概要（レポートから抜粋）
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チップ外観検査装置はダイシング後の半導体チップの検査を行う装置である。ボンダやマウンタ等の実装機に検査機能を付加した装置で検査を行うケースもある。回路パターン形成後の半導体チップの出荷の可否判定・分類を行うことで、不良品の後工程への出荷を抑制することが可能となり、自動車関連等の信頼性が求められる用･･･
１．市場規模（前年比）
２．市場予測
３．市場動向（販売実績・前年比）
４．マーケットシェア（会社名、販売実績、シェア）
５．市場概要
６．マーケットシェア状況
７．市場展望
８．市場指標／評価
価格2,200円（税抜）
ウェーハ外観検査装置〈レポート基準年：2018年〉
| データ更新日：2020年01月28日 | |
|---|---|
| 情報提供元 | 株式会社富士経済ネットワークス |
| PDFページ数 | 1頁（310kb） |
- レポート概要（レポートから抜粋）
-
本項では、光学式顕微鏡を用いた明視野検査（精度の高い検査が可能)と暗視野検査（タクトが早く、大量のウェーハ検査が可能）の検査装置、EB（Electoron Beam：電子ビーム）検査装置やSEM式の検査装置を対象とする。ウェーハ外観検査には、隣接するウェーハ上のチップとの画像比較を行うパターン付き･･･
１．市場規模（前年比）
２．市場予測
３．市場動向（販売実績・前年比）
４．マーケットシェア（会社名、販売実績、シェア）
５．市場概要
６．マーケットシェア状況
７．市場展望
８．市場指標／評価
価格2,200円（税抜）
ウェーハ外観検査装置〈レポート基準年：2017年〉
| データ更新日：2019年06月19日 | |
|---|---|
| 情報提供元 | 株式会社富士経済ネットワークス |
| PDFページ数 | 1頁（199kb） |
- レポート概要（レポートから抜粋）
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本項では、光学式顕微鏡を用いた明視野検査（精度の高い検査が可能)と暗視野検査（タクトが早く、大量のウェーハ検査が可能）の検査装置とEB（Electoron Beam：電子ビーム）検査装置やSEM式の検査装置を対象とする。ウェーハ外観検査には、隣接するウェーハ上のチップとの画像比較を行うパターン付き･･･
１．市場規模（前年比）
２．市場予測
３．市場動向（販売実績・前年比）
４．マーケットシェア（会社名、販売実績、シェア）
５．市場概要
６．マーケットシェア状況
７．市場展望
８．市場指標／評価
価格2,200円（税抜）